常温寿命测试机

设备概述:
本设备主要用于室温条件点灯状态下的AMOLED模组寿命及光学特性的测试                                                                                                                                                       
设备特点:
1、自主研发PG、算法及上位机控制软件确保设备性能;2、配备激光测距仪确保色彩分析仪和光谱仪与屏体之间的安全距离;3、箱内移动平台基座:大理石,确保检测仪器工作中不发生抖动、震动等情况影响检测结果;

设备技术参数:

噪声等级:≤60db;

防静电等级:≤±100V;

测试位置可调,中心单点、5点、9点、16点等;

三轴平台驱动色彩分析仪移动和对位,XYZ方向分辨率:0.01mm;

箱内黑暗条件:<1 Lux;

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    联系方式

  • 0512-63028889/63016669
  • 江苏省苏州市江陵街道交通路1188号
  • chenyf@gaci-o.com
  • http://www.gacii.net  
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